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光学前沿——2009’全国光电技术系统与检测学术会议
发布时间:2017/7/19 7:47:21   点击次数:1602次
光学前沿——2009’全国光电技术系统与检测学术会议(COST2009’)由中国科学院上海光学精密机械研究所主办,是展示我国光电材料,光电器件、光电技术系统集成与应用、光电检测研究和应用成果的平台。会议旨在推动我国光电技术系统与光电检测技术的发展。本届会议由重庆师范大学和中国激光杂志社联合承办,将于2009年5月18-21日在重庆师范大学举行。
COST2009’以光电材料,光电器件,光电系统集成及应用,工程光学,光学元件、系统,光电仪器测量,光电技术应用等领域为会议主题,将邀请著名专家、学者做热点研究特邀报告,全面展示当前光电技术前沿研究进展。会议面向全国高等院校、研究院所、光电器件相关高新技术企业征集高水平论文,投稿论文一经录用,将在《中国激光》光电技术专刊(EI核心版检索)发表,该专刊将于2009年10月份出版,优秀论文安排在《中国激光》杂志正刊发表。其余论文可选择推荐至《激光与光电子学进展》(中文核心期刊)、《光学与光电技术》(中文核心期刊)杂志正式出版。
会议时间:2009年5月18日-21日
会议地点:重庆师范大学
主办单位:中国科学院上海光学精密机械研究所
承办单位:重庆师范大学 中国激光杂志社
会议主题/征稿范围:
1、光电材料与系统
•  光电功能材料及其应用
• 光电器件、光电系统集成及应用
• 光电成像与图像处理
• 发光、显示与固体照明系统
• 光电虚拟测试技术
• THz与超快光子学
• 光子技术与光子集成技术
• 光电信息的获取、处理、传输与存储
2、工程光学
• 非成像光学系统及其优化设计
• 自由曲面光学元件的设计、制造
• 衍射光学系统的设计、制造技术
• 新型光学材料及其在光学系统中的应用
• 光学系统超分辨及焦深延拓技术
• 光学成像的矢量场理论
• 高效光学加工工艺研究
• 微纳光学制造技术
3、光学检测
• 抗振移相干涉技术
• 光学元件、材料、系统、光电仪器的测试;
• 光学系统的成像质量评价;
• 光学薄膜特性参数测试;
• 微小尺寸的光学测试技术;
• 测量不确定度及其在光学计量测试中应用;
• 发光器件的参数计量测试技术及仪器;
• 光纤及其器件参数计量测试;
• 红外光学、热像仪性能参数测试;
• 生物光子学中的测试技术;
• 光学仪器总体评价及实验室的环境测试及可靠性分析;
• 空间光学和遥感中光学计量测试技术及仪器;
• 微光夜视器件与系统参数测试;
• 光度、色度、光谱光度与辐射度测试技术;
• 仪器及光纤传感器的研发;
• 激光束参量与激光技术的相关测试技术方法;
• 光电探测器及CCD等阵列器件、红外焦平面器件参数测试及其在光学测试中应用;
• 兵器光学中的光学与光电测试技术;
• 现代光学与光电测试仪器现状与发展动向;
• 非光学量的光学测试技术;
4、光电技术及应用
• 光伏技术与系统
• 光存储技术及设备;
• 光显示技术及应用;
• 红外与微光技术及其应用
• 纳米技术及其应用
5、其他相关技术
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